Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Huertas J. \(2004\), Test and Design\-for\-Testability in Mixed\-Signal Integrated Circuits."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences (1)
Wybierz
Autorzy
Grzechca, D. (1)
Jantos, P. (1)
Rutkowski, J. (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits
D. Grzechca
J. Rutkowski
P. Jantos
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences | 2012 | 60 | No 1
| 133-142 | DOI:
10.2478/v10175-012-0019-4
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
D. Grzechca
J. Rutkowski
P. Jantos
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem