Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Li \(2014\), Measurements of mechan \- ical thermal noise and energy dissipation in optical dielectric coatings, Phys Rev, 17, 092004."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
Archives of Metallurgy and Materials (1)
Wybierz
Autorzy
Balzarini, L. (1)
Cagnoli, G. (1)
Degallaix, J. (1)
Dolique, V. (1)
Flaminio, R. (1)
Forest, D. (1)
Granata, M. (1)
Hofman, D. (1)
Michel, C. (1)
Pedurand, R. (1)
Pinard, L. (1)
Sassolas, B. (1)
Straniero, N. (1)
Teillon, J. (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
Internal Friction and Young's Modulus Measurements on SiO2 and Ta2O5 Films Done with an Ultra-High Q Silicon-Wafer Suspension
M. Granata
L. Balzarini
J. Degallaix
V. Dolique
R. Flaminio
D. Forest
D. Hofman
C. Michel
R. Pedurand
L. Pinard
B. Sassolas
N. Straniero
J. Teillon
G. Cagnoli
Archives of Metallurgy and Materials | 2015 | No 1 March
| DOI:
10.1515/amm-2015-0060
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
M. Granata
L. Balzarini
J. Degallaix
V. Dolique
R. Flaminio
D. Forest
D. Hofman
C. Michel
R. Pedurand
L. Pinard
B. Sassolas
N. Straniero
J. Teillon
G. Cagnoli
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem