Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Correction of the Refraction Phenomenon in Photogrammetric Measurement Systems Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2013 Numer No 4 Autorzy Samper, David ; Santolaria, Jorge ; Majarena, Ana Cristina ; Aguilar, Juan José Słowa kluczowe refraction correction ; photogrammetry ; correction polynomials Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 601-612 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2013 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.2478/mms-2013-0051 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2013; No 4; 601-612 <div class="test"></div>