Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Analysis of Noise and Non-Linearity of I-V Characteristics of Positive Temperature Coefficient Chip Thermistors Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2013 Numer No 4 Autorzy Grmela, Lubomír ; Sita, Zdenek ; Sedlakova, Vlasta ; Majzner, Jiri ; Sedlak, Petr ; Sikula, Josef Słowa kluczowe PTC chip sensors ; noise spectroscopy ; I-V characteristic non-linearity ; quality evaluation Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 635-644 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2013 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.2478/mms-2013-0054 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2013; No 4; 635-644 <div class="test"></div>