Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu A Verification Technique for Multiple Soft Fault Diagnosis of Linear Analog Circuits Tytuł czasopisma International Journal of Electronics and Telecommunications Rocznik 2018 Wolumin vol. 64 Numer No 1 Autorzy Tadeusiewicz, Michał ; Ossowski, Marek Słowa kluczowe analog circuits ; fault diagnosis ; linear circuits ; multiple soft faults ; verification technique Wydział PAN Nauki Techniczne Wydawca Polish Academy of Sciences Committee of Electronics and Telecommunications Data 2018.03.30 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.24425/118150 ; eISSN 2300-1933 (since 2013) ; ISSN 2081-8491 (until 2012) Źródło International Journal of Electronics and Telecommunications; 2018; vol. 64; No 1 <div class="test"></div>