Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2019 Wolumin vol. 26 Numer No 1 Autorzy Scandurra, Graziella ; Beyne, Sofie ; Giusi, Gino ; Ciofi, Carmine Słowa kluczowe low-frequency noise measurements ; electron devices reliability ; electro-migration ; dedicated instrumentation Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 13-21 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2019.04.01 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.24425/mms.2019.126336 ; e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2019; vol. 26; No 1; 13-21