Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Scheick L. \(2004\), Displacement damage\-induced catastrophic second breakdown in silicon carbide Schottky power diodes, IEEE Transactions on Nuclear Science, 51, 6, 3193."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
International Journal of Electronics and Telecommunications (1)
Wybierz
Autorzy
Kazimierczuk, Marian (1)
Nisha Kondrath (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
Characteristics and Applications of Silicon Carbide Power Devices in Power Electronics
Nisha Kondrath
Marian Kazimierczuk
International Journal of Electronics and Telecommunications | 2010 | vol. 56 | No 3
| DOI:
10.2478/v10177-010-0030-3
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
Nisha Kondrath
Marian Kazimierczuk
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem